ZEON

耐熱・耐圧マイクロ中空粒子
(研究開発品)

低誘電

電子材料向け中空粒子の特性

物性表
項目 測定条件/装置 電子材料向け中空粒子
外観 - 白色
材料 - ポリマー
体積平均粒子径
(µm)
コールターカウンター方式 3.3
空隙率(%) 液浸法 67
粒子真比重(-) 液浸法 0.33
比誘電率 空洞共振法(1GHz) 1.43
誘電正接 空洞共振法(1GHz) 0.0002
比誘電率
(長期保管後)※1
空洞共振法(1GHz) 1.46
誘電正接
(長期保管後)※1
空洞共振法(1GHz) 0.0002
熱分解温度
(℃、5%減量)
Tg-DTA N2下 355
Tg-DTA Air下 300
成形加工実績 熱硬化性樹脂成形 有り(エポキシ、ポリイミド、PPE)
  • 数値は代表値であり保証値ではありません
  1. ※1Air下、130℃、240hr後

中空粒子添加時の低誘電化効果

市販の電子材料向け樹脂ワニスに中空粒子を添加して、硬化させ、樹脂フィル作成し、SEM観察および電気特性を測定しました。
樹脂フィルム中でも空隙を維持し、中空粒子の添加量に伴い、比誘電率、誘電正接の低下が確認されております。

SEM像

中空粒子入りエポキシフィルムの断面SEM像

樹脂フィルム電気特性測定

PPE樹脂
エポキシ樹脂

測定条件

測定方法
空洞共振法
周波数
10GHz
測定環境
温度23℃±1℃、湿度50%
中空粒子
2.3µm、空隙率70%

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